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- V3910三目倒置金相顯微鏡
科研級三目倒置金相顯微鏡V3910采用優良的VIS無限遠校正光學系統。帶有偏光裝置,具有光源鎖緊保護功能,緊湊穩定的高剛性主體,充分體現了顯微鏡操作的防振要求。雙目觀察筒可上下180°翻轉調整,符合人機工程學要求的理想設計,使操作更方便舒適,空間更廣闊。適用于金屬、巖礦內部結構組織的鑒定和分析,或用于觀察材料表面特性,如:劃痕、裂紋、噴涂的均勻性等。廣泛應用在工廠、實驗室和教學及科學領域。
- 型號:V3910
- 更新日期:2024-06-28 ¥面議
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- WYJ-4XDIC科研級微分干涉顯微鏡
科研級微分干涉顯微鏡WYJ-4XDIC適用于金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結構分析和研究,或用于TFT液晶顯示屏導電粒子分析研究。是金屬學、礦物學、精密工程學、電子學、半導體工業、硅片制造業、電子信息產業等觀察研究的理想儀器。總放大倍數:50-800X。
- 型號:WYJ-4XDIC
- 更新日期:2024-06-28 ¥面議
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- WYJ-57C三目透反射正置金相顯微鏡
三目透反射正置金相顯微鏡WYJ-57C既可以觀察金屬材料的金相組織結構,也可以觀察半透明,甚至不透明的生物標本。采用了平場消色差物鏡和大視野目鏡,具有成像清晰,視野廣闊,操作方便等特點。是金屬學、礦物學、精密工程學、電子學等研究的理想儀器。總放大倍數:50X-600X。
- 型號:WYJ-57C
- 更新日期:2024-06-28 ¥面議
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- WYJ-56XA三目正置金相顯微鏡
三目正置金相顯微鏡WYJ-56XA適用于不同厚度工件表面的金相組織結構與工件表面質量進行顯微觀察,主要用于精密零件,集成電路,包裝材料等產品檢測。總放大倍數:50X-600X。
- 型號:WYJ-56XA
- 更新日期:2024-06-28 ¥面議
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- WYJ-4XBD科研級三目暗場金相顯微鏡
科研級暗場金相顯微鏡WYJ-4XBD采用優良的無限遠光學系統與多功能、模塊化的設計理念,帶有偏光裝置、暗場裝置,可實現偏光觀察、暗場觀察等功能。緊湊穩定的高剛性主體,充分體現了顯微鏡操作的防振要求。符合人機工程學要求的理想設計,使操作更方便舒適,空間更廣闊。適用于薄片試樣的金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結構分析和研究,或用于觀察材料表面特性,如:劃痕、裂紋、噴涂的均勻性等分析研究。
- 型號:WYJ-4XBD
- 更新日期:2024-09-13 ¥面議
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- WYJ-55BD三目暗場金相顯微鏡
三目暗場金相顯微鏡WYJ-55BD采用優良的無限遠光學系統與多功能、模塊化的設計理念,帶有偏光裝置、暗場裝置,可實現偏光觀察、暗場觀察等功能。緊湊穩定的高剛性主體,充分體現了顯微鏡操作的防振要求。符合人機工程學要求的理想設計,使操作更方便舒適,空間更廣闊。適用于薄片試樣的金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結構分析和研究,或用于觀察材料表面特性,如:劃痕、裂紋、噴涂的均勻性等分析研究。
- 型號:WYJ-55BD
- 更新日期:2024-09-13 ¥面議